Тауметр 2М
Прибор «Тауметр 2М» предназначен для измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в пластинах и слитках монокристаллического и мультикристаллического кремния бесконтактным сверхвысокочастотным методом.
Генерация избыточных носителей заряда осуществляется воздействием на измеряемый полупроводниковый образец импульсным лазерным излучением. Вычисление эффективного времени жизни неосновных носителей заряда рассчитывается по спаду фотопроводимости.
Расчет объемного времени жизни неосновных носителей заряда осуществляется по международным стандартам SEMI MF1535 и SEMI MF28.
Прибор «Тауметр 2М» уже поставлен на заводы по производству кремния, в научно-исследовательские институты, имеются экспортные поставки.
При необходимости вертикальную стойку прибора изготовим удлиненную (по желанию заказчика) – для высоких образцов.
С техническими характеристиками и прочей информацией можно ознакомиться в спецификации.
